NE9202靜態(tài)位移校驗器

這是一種便攜式效驗儀設備，可用于現場或實驗室。主要用于電渦流位移傳感器靜態(tài)特性的標定及電渦流位移傳感器配套位移測量儀表的標定。

技術參數：

1.校準精度：百分表精度技術指標校準范圍：   0~25mm;0~35mm;0-50mm  

2.試件材料：40CrMoA

3.試件直徑：Φ75mm或Φ105mm大校準探頭Φ25mm

4.試件直徑：Φ105mm或Φ125mm大校準探頭Φ35mm

5.試件直徑：Φ150mm或Φ175mm大校準探頭Φ50mm

NE9202靜態(tài)位移校驗器

產品概述
　　ZA-BJZ-01型高精度靜態(tài)校準器采用高精度（大分辨率0.5μm、大精度1μm）直進式、大量程微分頭結構，體積小、攜帶方便?？捎糜诟呔任灰苽鞲衅鞯撵o態(tài)標定和校準。

特 點

采用全進口高精度大量程的微分頭結構，在位移改變的過程中，試件盤不會像現在市場上的其他產品一樣發(fā)生擺動或旋轉，而只會在軸向前后移動。為現有市場上精度高、量程大才、重復性的靜態(tài)位移校準器，大位移量程可達25mm。

技術指標

大量程:ZA-BJZ-01型25mm

試件盤直徑：ф108，可用于探頭頭部體直徑大ф36的電渦流傳感器

位移分辨率：0.5μm

微分頭精度：≤±1μm

系統(tǒng)精度：≤±2μm

外形尺寸：ZA-BJZ-01型200（長）×90（寬）×126（高）單位：mm（不含試件盤）

ZA-BJZ-02型400（長）×90（寬）×166（高）單位：mm（不含試件盤）

阿貝中心高：ZA-BJZ-01型118mm

                    ZA-BJZ-02型134mm

系統(tǒng)組成

ZA-BJZ型靜態(tài)校準器由高精度大量程微分頭、探頭安裝支架、微分筒安裝支架、底板、試件盤、探頭轉接套等幾部分組成。